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© Dr. Ann Kathrin Bergmann

Ausstattung

Die CFEM verfügt über zwei Transmissionselektronenmikroskope, ein Rasterelektronenmikroskop und ein Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM).

Für die Probenaufbereitung steht ein bestens ausgestattetes Labor zur Verfügung. Zur Schnittpräparation kommen ein Leica EM Ultracut 7 und ein Reichert/Jung Ultramikrotom zum Einsatz, ergänzt durch ein Reichert/Jung Trimmgerät TM60.

Für REM-Untersuchungen sind ein Kritisch-Punkt-Trockner und Sputtercoater verfügbar.

Das FIB-SEM ermöglicht die präzise Bearbeitung und Schnittführung von Volumenproben für die 3D-Rekonstruktion im Nanometerbereich von Zellen und Geweben. Neben der klassischen Rasterelektronenmikroskopie kann mit dem fokussierten Ionenstrahl Material abgetragen werden, um Schicht für Schicht Aufnahmen der Probe zu erstellen und anschließend eine 3D-Rekonstruktion des Volumens zu berechnen. Das Gerät eignet sich sowohl für biologische als auch für materialwissenschaftliche Proben.

Baujahr: 2020
Installation: 2020
Beschleunigungsspannung: bis 30 kV
Detektoren: EsB, InLens, SE2, EBSD
Software: SmartSEM, SmartFIB, Atlas 5

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Das Hitachi H-7100 ist ein zuverlässiges Transmissionselektronenmikroskop mit einer Beschleunigungsspannung von 25 – 125 kV und hoher Auflösung. Es eignet sich für biologische und materialwissenschaftliche Proben aufgrund seines exzellenten Beleuchtungs- und Abbildungsvermögens. Die hohe Stabilität und einfache Bedienung machen das Gerät ideal für den Einsatz in Lehrveranstaltungen.

Baujahr: 1990
Installation: 2019
Beschleunigungsspannung: 25 – 125 kV
Filament: Wolfram
Software: iTEM

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Das Hitachi S-4500 ist mit einer Kaltfeldemissionskathode ausgestattet und bietet eine Beschleunigungsspannung von 0,5 – 30 kV. Es eignet sich besonders für die Oberflächenuntersuchung von Proben in verschiedenen Bereichen der Wissenschaft. Zur Erleichterung des Probenwechsels ist eine Infrarotkamera integriert, und eine Digitalkamera ermöglicht die Aufnahme von Bildern während der Analyse.

Baujahr: 1996
Installation: 2019
Beschleunigungsspannung: 0,5 - 30 kV
 

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Das JEOL JEM-2100plus mit LaB6-Kathode eignet sich für klassische TEM-Aufnahmen sowie Elektronentomografie. Dabei werden Bildserien aus verschiedenen Neigungswinkeln aufgenommen, um 3D-Strukturen zu rekonstruieren. Mit dem "High-Tilt"-Halter sind Kippwinkel von ± 80° möglich. Die Software SerialEM ermöglicht eine komfortable und semi-automatisierte Erstellung von Kippserien und größeren Bildmontagen.

Baujahr: 2018
Installation: 2019
Beschleunigungsspannung: 80 – 200 kV
Filament: LaB6
Kamera: Matataki Flash (2048 x 2048 Pixel)
Software: TEMCenter, SerialEM

Besonderheiten:

Motorisierte Objektivblende
Probenspitzenhalter für Tomographie (± 80°)

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